即使在昏暗的地方,或反射强烈的地方也可以用明亮而清晰的图像来检测广大区域中细微的缺陷。IPLEXNX的技术意味着用户可以获得用于快速、精确检查的高品质图像。
IPLEXNX奥林巴斯孔探仪设计能够进行精确的3D测量。融入了奥林巴斯公司先进的工业视频内窥镜技术,能够完成精确而有效检测。
超广角立体测量
立体测量功能用于测量缺陷的尺寸和深度,比如检查过程中发现的裂缝。重新设计的光学系统和算法极大地扩展了检查面积——面积和距离分别扩展了4倍和2倍。
更大的检查面积使用户能够更容易地观察更大的缺陷。
*即使从两倍远的距离进行测量,IPLEXNX也能与传统型号一样精确。
**如果φ6.0mm内窥镜与直视立体光学适配器配套使用,IPLEXNX对角线长度对应的检测区域几乎是传统型号的四倍。
参考:实际的视角比本示意图显示的更宽。
更多:孔探仪
https://www.chem17.com/st330399/erlist_1901119.html
https://www.chem17.com/st330399/product_30100955.html
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